高、低溫試驗是模擬環(huán)境試驗中*的試驗設(shè)備，環(huán)境試驗的試驗場地應(yīng)能具有廣泛的代表性，能進行近可能多的試驗項目，并且應(yīng)與將來可能作戰(zhàn)的環(huán)境近可能地接近。但是，環(huán)境試驗場往往與真實的使用環(huán)境存在差別 .

   高溫試驗：試驗中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫 季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用兵器的情形。僅當(dāng)太陽輻射試 驗不能檢驗高溫效應(yīng)時才進行這項試驗。試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用 的性能。 

　 低溫試驗：試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗的目 的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。